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鋇鎵鍺晶籠熱電合金的成份、鍵結與價帶能譜之分析

研究發現以XPS定量分析BaGaGe晶籠材料所得之成份比例與用質譜儀分析結果有所差異，應該是因為光電子衰減長度誤差所造成。運用此差異可算出衰減長度之修正因子。

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