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X-RAY膜厚測試原理(EX-731、FD-02) - 中茂儀器

X 射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀） · 是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。 · 可以把關公司產品膜厚厚度、RoHS檢測、重金屬檢測、 ...

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