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WAFER檢查機-鏵友益科技股份有限公司

AOI/AVI 機械視覺規劃 · 機械流程圖:如圖一 · 定位說明: Wafer定位採用獨立Area CCD拍照Wafer上下的Die影像，從Die影像中尋找已經學習的光學定位點，並計算光學定位點的偏移 ...

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