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積體電路良率管理之良率模式構建

本研究所提出的良率模式，在建構上的考量是將晶圓(wafer)上的缺 ... 規格測試的晶方(die)數相對於所有經過測試 ... 便，所以他建議以下列公式來計算α 值：.

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