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WDIS 晶圓定位及瑕疪檢測系統Wafer Mapping & Inspection ...

可自定義多點檢測位置，如已公式計算多點檢測位置，或自行設定固定檢測位置。 ... 可依每個Die的檢測狀況，選擇Defect進行標記，並以顏色於Wafer Map呈現，方便檢視與 ...

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