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資料探勘技術在晶圓針測誤宰分析之應用Applying Data Mining ...

本研究與領域專家所討論出的誤宰偵測演算法進行計算，然後以資料探勘技術中 ... (Bad Die)事先排除，此一流程也常被稱為晶圓分類(Wafer sort)；意指將各晶粒分.

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