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wafer arcing現象
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半導體製程技術 - 聯合大學
尖突現象. ▫ 鋁的尖突物穿透摻雜接面. ▫ 使源極/汲極與基片形成短路. ▫ 通常~1% 就可以讓矽在鋁中達到飽和. ▫ 在攝氏400 °C 時的加熱退火會在矽鋁介面形成矽鋁合.
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