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國家奈米元件實驗室南區辦公室 - 台灣半導體研究中心

紫外光可見光光譜儀(UV-VIS-NIR Spectrophotometer). 一. 系統規格. 1. 量測材料對於不同波長光源之吸收率、穿透率及反射率。 2. UV-VIS-NIR波長範圍：200 ～2,700 nm ...

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