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CMOS芯片灰尘检测与清除

◇Underkill ≤ 0.2%. ◇Overkill ≤ 2%. 检测类型. ◇所有制程的CMOS芯片，尺寸规格：≥2X2mm，≤20X20mm. ◇芯片表面，IR上下表面的灰尘和其他缺陷. 检测精度.

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