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光學儀器(2)

依需檢出之瑕疵進行影像對比與AI影像深度學習法，降低過減（OVER KILL）及漏檢（UNDER KILL）的發生。 AI判定結果，晶圓上瑕疵種類、座標、面積、數量清楚明瞭，數據 ...

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