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拓微TP4056涓流轉恆流及高溫工作測試報告

晶片名稱：tp4056. 測試板：本公司tp4056演示板. 測試環境：溫度20℃. 測試目的：檢測晶片在涓流轉恆流及極限熱耗散情況下（高溫工作）的可靠性.

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