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Kore SurfaceSeer I TOF-SIMS

Kore SurfaceSeer I: TOF-SIMS · 使用第二个离子源进行深度分析. LMIG不适合腐蚀凹坑，因此，为了进行SIMS深度剖析，我们使用了第二支离子枪专门用于溅射。 通过使用第二个 ...

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