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CAMECA二次离子质谱仪QUAD4550-参数-价格 - 仪器信息网

飞行时间二次离子质谱仪/ PHI nano TOF 3/TOF-SIMS ... 中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。

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