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TOF-SIMS二次离子质谱仪 - 华南检测

飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS）是一种基于质谱的表面分析技术。 ... 深度剖析：超薄多层薄膜结构分析（膜层厚度nm)，特别是有机薄膜。

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