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TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜儀） - 百科知識中文網

TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子 ... 樣品表面的一些原子層深入到一定深度，在穿透過程中發生一系列彈性和非彈性碰撞。

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