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飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）在深度剖析上的技术应用

微源检测实验室的TOF-SIMS测试可以深度剖析样品，为科研机构和单位提供元素和分子的空间分布信息服务。 二次离子漂移、提取场关闭期间施加用于对样品 ...

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