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JEOL推出高精確度和高解析度的FIB-SEM系統JIB-PS500i

在半導體產業、電池和材料領域，在為穿透式電子顯微鏡(TEM)製備樣品時需要「更高的 ... 大電流加工對製備用於大面積成像和分析的截面樣品特別有效。

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