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材料分析Part B-4 穿透式電子顯微鏡(TEM) -B-4-1 TEM簡介

材料分析Part B-4 穿透式電子顯微鏡(TEM) -B-4-1 TEM簡介. 將圖B-9中試片的厚度降至150奈米以下，再將入射電子的加速電壓增至100 KV以上，則絕大多數 ...

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