... TDDB: 依时性介电崩溃测试; NBTI: 负偏压温度不稳定性测试; EM: 电迁移测试; SM: 压力迁移测试; HTSL: 高温储存寿命测试; Pre-con: 预处理测试; TCT: 温度循环测试 ...
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