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加速溫度循環測試對電子元件可靠度壽命之影響 - 博碩士論文網

電子產品在上市之前通常都須經過一系列的可靠度測試，其中又以熱循環測試(Thermal Cycling Test-TCT)最為廣泛應用。但因其熱循環測試耗時甚久，往往造成測試瓶頸。

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