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掃描聲學顯微鏡| SAM | EAG實驗室

SAM 對分層和材料密度變化的存在高度敏感，使用X 射線照相、紅外成像和其他非破壞性技術很難檢測到這些。 它可以檢測亞微米氣隙，缺陷分辨率約為5 µm。 EAG 提供各種成像 ...

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