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成長於矽(111)基板的GaN 表面薄膜缺陷結構之電性特徵

中文 摘要. 利用STM，本研究工作探討，由於晶格不匹配導致在矽(111)上成 ... 在本研究中，氮化鎵薄膜中的刃差排(Edge dislocation)和螺旋. 差排(Screw dislocation) ...

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