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半導體產品老化壽命試驗 - 華證科技

半導體 產品是電子產業的核心，而其可靠度試驗的關鍵項目在針對晶片老化壽命，實驗項目最普遍是以JEDEC 47或MIL-STD 883為基礎進行。根據JEDEC 47的建議，樣品的取得是必須 ...

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