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Xsmart-半導體製程藥水及膜厚total solution - 喬哈斯

Xsmart可替傳統代人力方式，取代科技業客戶要求不要有人員直接接觸wafer以及切面量測、人員手動操作桌上型xray膜厚儀等傳統方式達到半導體鍍層元素厚度檢測應用。 WAFER： ...

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