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導電式原子力顯微鏡在IC 製程及故障分析之應用

這個例子是SRAM 中的鄰近的位元同時發生. 故障，而故障的位址是經由測試機台的測試結果得. 知，依據SRAM 的結構特性以及運作原理，位元間.

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