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軟、硬體相互搭配半導體DC參數檢驗精準到位 - 新電子

在半導體檢驗當中，一般可分為結構檢驗與功能檢驗等兩個部分。結構測試可確保晶片製程無誤；功能測試則是確認晶片是否符合設計規格，並能於最後的環境中執行作業。

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