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TW201510542A - 具開路測試之半導體封裝構件測試系統與方法

由此可知，一種可以提供即時偵測半導體封裝構件與測試設備間導通裝態之開路測試，又可以進行功能性測試(系統級測試，SLT)之測試方法、及其測試系統，實為產業界迫切的 ...

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