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SEMICON：半導體量產測試邁向智慧化 - 電子工程專輯

為此，必須顯著增加測試吞吐量和覆蓋範圍，以及使用高速介面以實現ATE和SLT之間測試的可移植性。 Advantest在論壇中強調標準高速串列介面在先進SoC 和大型 ...

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