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爱德万夏克金： IC测试使命从降低成本转向创造价值

系统级测试（SLT，system level test）、大数据分析、ATPG编程自动化等，都是测试领域应对未来半导体市场发展面临的挑战，这需要测试设备厂商有超前的 ...

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