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芯片测试的术语解释（FT、CP），持续更新.... - CSDN博客

2020年7月28日 — CP测试：Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试，目的是确保整片wafer ... ATE测试一般只需要几秒钟；SLT一般需要几个小时，逻辑比较简单。

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