使用JEOL JSM-6700F 場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM, JEOL, Japan)進行觀察。 五、 FTIR 分析. 分析的樣品分別為TEOS、OMC、Parsol 1789、OMC/SiO2、Parsol 1789/SiO2 ...
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