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飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS - 广州华晰检测技术中心

分析原理：飞行时间-二次离子质谱仪（TOF-SIMS），是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子，根据二次离子飞行到探测器的时间不同来 ...

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