你即將離開本站

並前往http://nanox.sinano.ac.cn/web/27824/tof-sims

TOF-SIMS - 纳米真空互联实验站

TOF-SIMS：. （1）细聚焦的离子束在样品表面扫描可获得二维成分图；. （2）用离子束将材料表面一层层除去的同时分析该层的质谱图，可获得三维的深度分布。

確定！ 回上一頁

查詢 「sims表面分析」的人也找了：

  1. sims縱深分析
    2.
  2. tof sims分析
    3.
  3. tof sims xps比較
    4.
  4. sims量測
    5.
  5. tof sims原理
    6.
  6. sims儀器
    7.
  7. tof sims深度
    8.
  8. SIMS analysis
    9.