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​二次离子质谱（SIMS）分析技术及应用|分析器|同位素 ... - 网易

二次离子质谱（SecondaryIonMassSpectroscopy，SIMS）是现代表面分析技术中重要的组成之一。它是利用一次离子束轰击材料表面，通过质谱分析器检测溅射 ...

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