你即將離開本站

並前往https://www.edntaiwan.com/20211206ta31-tof-sims-analytical-technique-in-semiconductors/

縱橫半導體檢測TOF-SIMS扮演要角- 電子技術設計 - EDN Taiwan

TOF-SIMS藉由帶有能量的入射離子轟擊待測樣品的表面，將目標區域的原子轟出而產生二次離子，二次離子經過加速後被導入飛行時間式的質譜分析系統。這些不同 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「sims表面分析」的人也找了：

  1. sims縱深分析
    2.
  2. tof sims分析
    3.
  3. tof sims xps比較
    4.
  4. sims量測
    5.
  5. tof sims原理
    6.
  6. sims儀器
    7.
  7. tof sims深度
    8.
  8. SIMS analysis
    9.