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二次離子質譜：出售SIMS - AntiTeck

二次離子質譜（SIMS） 是通過用高能初級離子束轟擊樣品表面，從樣品表面濺射出二次粒子的過程，使表面的原子或原子團吸收能量，這些帶電粒子通過質量分析器獲得樣品 ...

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