你即將離開本站

並前往https://m.fx361.com/news/2020/1021/7722636.html

二次离子质谱仪（SIMS）分析技术及其在半导体产业中的应用

昌鹏摘 要：二次离子质谱仪（SIMS）是一种成熟的应用广泛的表面分析技术，具有高灵敏度（ppm-ppb）和高分辨率。本文介绍了SIMS基.

確定！ 回上一頁

查詢 「sims表面分析」的人也找了：

  1. sims縱深分析
    2.
  2. tof sims分析
    3.
  3. tof sims xps比較
    4.
  4. sims量測
    5.
  5. tof sims原理
    6.
  6. sims儀器
    7.
  7. tof sims深度
    8.
  8. SIMS analysis
    9.