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表面分析技术详解:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS) - 知乎
此外,TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子 ...
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