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二次離子質譜儀 - 中文百科全書

Secondary-ion-mass spectroscope （SIMS）是一種基於質譜的表面分析技術，二次離子質譜原理是基於一次離子與樣品表面互相作用現象（基本原理如下圖所示）。帶有幾千電子 ...

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