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TOF SIMS （飞行时间二次离子质谱仪）

该仪器常用于样品表面有机与无机的痕量污染物分析，同时还能实现高灵敏的成分成像。 与全反射X荧光分析仪（TXRF）相比，TOF-SIMS具有与其可比的灵敏度，且对轻元素的 ...

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