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二次離子質譜儀(TOF-SIMS) - 國立清華大學貴重儀器中心

儀器開放年度：2017年; 廠牌及型號：德國 ION-TOF, TOF-SIMS V; 重要規格：. 分析離子 ... 計畫付費: 表面成份分析收費：500元/件 縱深分佈分析收費：1,000元/件(小時)

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