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表面分析方式 - 軟體兄弟

SIMS 相較於一般由晶片正面進行分析的方式，藉由試片製備技術，由晶背分析能減少因 ... ,20世纪60年代全金属超高 ... 的成分擴散研究，這種縱深成分分析法是一種破壞.

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