你即將離開本站

並前往https://www.tsri.org.tw/CommonUtilServlet?type=2.84&file=techd1s1a1%E4%BA%8C%E6%AC%A1%E9%9B%A2%E5%AD%90%E8%B3%AA%E8%AD%9C%E5%84%80-20211124.pdf

二次離子質譜儀-SIMS

SIMS 質譜掃描. (Mass Scan). 試片表面之質譜掃描，可. 偵測得知表面之元素組成. 2. SIMS 縱深分析. (Depth Profile). 藉離子束撞擊樣品，分析.

確定！ 回上一頁

查詢 「sims縱深分析」的人也找了：

  1. xps縱深分析
    2.
  2. tof sims xps比較
    3.
  3. tof sims原理
    4.
  4. 飛行時間質譜儀原理
    5.
  5. scm分析
    6.
  6. Auger 分析
    7.
  7. sims定量
    8.
  8. 二次離子質譜
    9.