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行政院國家科學委員會專題研究計畫期中進度報告 - 淡江大學 ...

UNCD 後，以SIMS 檢測試片縱深二次離子訊號如圖. 二所示。 ... 之試片SIMS 縱深分析之結果(a) Ti/Si、UNCD/Ti/Si ... 基板UV Raman(325 nm)光譜分析(a)鑽石粉震盪法(b).

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