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國立中山大學物理研究所碩士論文

本次實驗使用二次離子質譜儀(SIMS)來分析薄膜的介面元素分布情 ... 和Ba 的訊號也顯非穩定曲線，吾人認為這些曲線為假訊號，和縱深分析並.

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