你即將離開本站

並前往http://libir.tmu.edu.tw/bitstream/987654321/53042/2/30.%E4%BA%8C%E6%AC%A1%E9%9B%A2%E5%AD%90%E8%B3%AA%E8%AD%9C%E5%84%80%E5%8E%9F%E7%90%86%E8%88%87%E7%94%9F%E9%86%AB%E6%87%89%E7%94%A8%E7%A0%94%E8%A8%8E%E6%9C%83.pdf

二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會 - TMU

Sub=micron TOF SIMS Imaging ... 於Purdue Lilversity取得分析化學博士學位,研究結合了XPS與電化學分析技術,並開始他31年的表面分析研究。

確定！ 回上一頁

查詢 「sims縱深分析」的人也找了：

  1. xps縱深分析
    2.
  2. tof sims xps比較
    3.
  3. tof sims原理
    4.
  4. 飛行時間質譜儀原理
    5.
  5. scm分析
    6.
  6. Auger 分析
    7.
  7. sims定量
    8.
  8. 二次離子質譜
    9.