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二次離子質譜儀原理與生醫應用研討會

TOF-SIMS其基本原理是利用一次離子束，以一定的入射角度撞擊樣品原子層表面 ... 切片利用TOF-SIMS分析，所得到的影像與縱深分析比較，以及其可應用的 ...

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