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二次離子質譜術分析技術研發與新型陽離子高分子基因載體研究

飛行時間二次離子質譜術TOF-SIMS(Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometry)，具有同時分析微量有機分子與無機元素的能力，質量分析範圍可從氫原子到分子量上萬 ...

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