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电子材料导论 - 第 44 頁 - Google 圖書結果

SIMS 探测的深度为表面单层,对轻元素(如氢及其化合物)特别灵敏。 ... 3 濺射中性粒子谱濺射中性粒子谱( SNMS )的分析原理与 SIMS 非常类似。所不同的是,它将表面溅射 ...

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