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二次离子质谱（SIMS）的原理特点和应用 - 分析测试百科网

二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的 ...

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